IES 二維 / 三維的帶電粒子設計分析模組 - LORENTZ
LORENTZ二維 / 三維的帶電粒子設計分析模組
“為了測定離子遷移率（ IMS ），我們公司最大的困難就是要如何對離子的運動建模。在研究中，我們應用了 LORENTZ 模擬了離子陷阱和一些測定 IMS 的裝置。對比我們在真實的硬體中測量的資料， LORENTZ 模擬 的結果十分符合，並且 協 助我們減少了 設計的 時間和資金的投入。” William Blanchard：Blanchard ＆ Company Inc. Phoenix, Maryland, USA
LORENTZ ， IES 公司的 二維 / 三維 帶電粒子分析模組 ， 結合帶電粒子和光束模擬分析的技術。利用邊界元素演算法（ BEM ），與功能強大的用戶介面及後處理過程結合在一起，幫助 LORENTZ 減少了傳統有限差分(FDM)演算的缺點。我們的研究和開發專業人員設計了 LORENTZ ，目的是幫助解決設計內在固有的問題以及靜電場 和/或 靜磁場中出現的帶電粒子問題。設計工程師能夠依靠 LORENTZ 來設計和分析包含於靜電和靜磁元件中的帶電粒子，包括：
- 陰極射線管 CRT/X 光顯像管
- 在核應用中的高能粒子
- 回轉加速器 / 速調管 / 加速器
- 離子注入 / 電子平板印刷 / 磁片噴射
- 電子槍設計
- 質譜測量
- 磁電管
- 高壓電暈效應
LORENTZ 概述
- 多領域應用的二維 / 對稱旋轉和三維的帶電粒子場求解器
- 強大的圖文整合及工具列介面，用於簡單的資料和圖形操作
- 用於設計評估和最佳化的一系列後處理功能選項
- 工業標準的 CAD 輸入/ 輸出應用，可以為建構模型節省時間
- 工業領域中最廣泛的技術支持
- LORENTZ - 2D (BEM，FEM→Hybrid BE-FE Method)
- LORENTZ - 3D (BEM，FDM)
降低成本
利用 LORENTZ 在電腦上的數值虛擬方式來模擬最佳化的結果，提高產品的品質及顯著的降低設計和建構模型的成本，給工程師提供了最好的直覺觀察設計和驗證的條件。
簡單快捷的分析過程
LORENTZ 提供了快速精確的結果 ，在準確的邊界模型和開放區域的問題上有了簡便的分析方法，且不需要求解 有限元素的網 格 。 LORENTZ 在你的操作介面上放置了易於使用、功能強大的電磁場分析工具。 LORENTZ 的操作步驟，如下所示：
- 步驟 一 從我們的幾何模型介面中建構你的設計模型或直接從你的 CAD程式裡輸出
- 步驟二 指定模型的物理屬性及參數
- 步驟三 分析模型，顯示結果和最佳化性能
LORENTS 先進的技術特徵
- 直觀和結構化的工具列，使專家和初學者的使用效率都達到最大
- 傳統及相對論的模式且計算軌跡可以選擇四種不同演算法
- 常數量及時間諧波偏量的靜磁場
- 基於邊界元素求解器的高精確場的計算
- 內置的能量單位系統，包括 eV（電子伏特），KeV（千電子伏特），MeV（兆電子伏特）及GeV（吉電子伏特）的單位，就如時間，長度的單位系統等能被用戶熟悉
- 光束分析使用戶可以根據光束來給軌跡分組
- 最小化模型和求解時間的週期性和對稱性
- 繪製階梯場和向量場的顯示型態多樣性，包括：曲線圖、輪廓圖、指標圖、彩色圖、流線圖和向量軌跡圖
- 粒子與地心引力、流體的粘滯性及粒子遷移率的相互影響
- 用於準備報告和顯示的高品質的圖形檔和文字檔案
- 資料可以輸出成 Office 等格式檔，用於製作電子資料表，或用於其他的套裝軟體
- 允許自動求解多個檔案的批次處理功能
- 強大的參數特性，允許一步步定義參數 變數，允許多個“假設分析”方案，使設計達到最佳化結果
- 能夠在特定情況下操作多個發射器和集電器 並且 能夠處理空間電荷效應
- 能夠控制不同的發射模式， Fowler － Nordheim ， Child saturation ，限制電流和 Richardson － Dushman 的熱發射
連結原廠LORENTS 的相關技術文件
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